Karakterisasi Film Tebal: Analisis Optik dan Sinar-X

Mengerti struktur internal dan komposisi kimia dari bahan adalah dasar dari rekayasa semikonduktor modern. Kursus ini memperkenalkan metode penting yang digunakan untuk memeriksa film tipis tanpa merusaknya, memastikan hasil manufaktur dan penelitian berkualitas tinggi. Anda akan mendapatkan pemahaman yang jelas tentang bagaimana sinyal optik dan sinar-X digunakan untuk menentukan ketebalan film, struktur kristal, dan kemurnian material. Apa yang akan kau pelajari: - Mengerti fisika dasar cahaya dan interaksi sinar-X dengan materi padat - Belajar bagaimana ellipsometri dan reflektometri digunakan untuk mengukur ketebalan film tipis - Terapkan teknik difraksi sinar-X untuk menganalisis kualitas kristal dan parameter kisi - Menguasai dasar-dasar analisis komposisi untuk mengidentifikasi kekotoran material - Mengeksplorasi modern otomatis workflow karakterisasi dan teknik analisis data-driven - Praktik menafsirkan data karakterisasi untuk skenario manufaktur semikonduktor dunia nyata Kursus ini dimulai dengan pengenalan terminologi kunci dan fisika gelombang sebelum memandu Anda melalui metodologi karakterisasi spesifik yang digunakan di industri saat ini. Program berbasis teks ini dirancang untuk pemula dalam teknik, fisika, atau ilmu material tanpa pengalaman sebelumnya dalam karakterisasi yang diperlukan. Mulai perjalanan Anda ke dunia akurat analisis material hari ini.